Willkommen bei ROBUST

(Entwurf Robuster Nanoelektronischer Systeme)

Das Projekt ROBUST erforscht neue Methoden und Verfahren zum Entwurf robuster nanoelektronischer Systeme. Hierzu werden erstmals Maße zur Quantifizierung der Robustheit definiert. Diese Maße werden mit Hilfe zu abstrahierender Robustheitsmodelle und unter Anwendung neuer Robustheitsanalyseverfahren für die Systemebene ermittelt. Die Robustheitsmaße werden eingesetzt, um beim Entwurf statische und dynamische Optimierungen der Robustheit gezielt durchzuführen und zu bewerten. Als Ergebnisse entstehen neue Methoden und prototypische Werkzeuge, welche im Rahmen eines Top-Down-Systementwurfs nanoelektronischer Systeme die Robustheit bereits in frühen Entwurfsphasen berücksichtigen. Die Methoden und Prototypen werden durch Anwendung auf ein Demonstrator-Design evaluiert und den industriellen Projektpartnern für weiterführende Arbeiten zur Integration in ihren Entwurfsprozess zur Verfügung gestellt.



Tutorial "Bewertung und Optimierung der Robustheit mikroelektronischer Systeme"
6. GMM/GI/ITG-Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf" (ZuE)

Tutorial B
Sitzungsleitung und Organisation: L. Hedrich, Goethe Universität Frankfurt am Main

F. Salfelder, Goethe Universität Frankfurt,
M. Kärgel, M. Olbrich, Leibniz Universität Hannover,
M. Barke, Technische Universität München, 
D. Helms, OFFIS - Institut für Informatik, Oldenburg
S. Stattelmann, FZI; O. Bringmann, Eberhard-Karls Universität Tübingen

Alterungseffekte wie NBTI und HCI wurden für Transistoren, die in digitalen Schaltungen verwendet werden, eingehend untersucht. Die Auswirkungen auf die digitalen Syteme werden im 2. Teil des gesamten Tutorials eingehend beleuchtet. Dieser Teil behandelt die Auswirkungen auf analoge Schaltungsteile: Die physikalischen  Effekte werden kurz vorgestellt und dann so modelliert, dass sie auch bei analogen Eingangssignalen plausibles Schädigungsverhalten aufweisen. Zusätzlich wird eine Methode angegeben, wie das Schädigungsverhalten effizient über 10 Jahre vorausberechnet werden kann. Die Methoden werden mit einigen analogen Beispielen unterfüttert.

Dienstag, 25. September 2012
DLR, Institut für Raumfahrtsysteme, Bremen
13:00 - 17:00 Uhr

Uhrzeit

Thema

13:00 - 13:20

Robustheit

13:20 - 14:00

Modellierung stetiger Degradationseffekte in analogen Schaltungen
(Felix Salfelder, Goethe Universität Frankfurt)

14:00 - 14:35

Mixed-Signal-Simulation mit Berücksichtigung von Parametervariationen
(Michael Kärgel, Markus Olbrich, Leibniz Universität Hannover)

14:35 - 15:10

Einfluss von Alterungseffekten auf die Robustheit digitaler Schaltungen
(Martin Barke, Technische Universität München)

15:10 - 15:30

PAUSE

15:30 - 16:05

Von der Spezifikation zur frühen Robustheitsvorhersage
(Domenik Helms, OFFIS – Institut für Informatik)

16:05 - 16:40

Workload-basierte Verlässlichkeitsanalyse für eingebettete Prozessoren
(S. Stattelmann, FZI; Oliver Bringmann, Eberhard-Karls Universität Tübingen)

16:40 - ENDE

Fragen