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Dieses Projekt behandelt das wachsende Problem der Störanfälligkeit, das zusammen mit den parasitären Effekten neuer IC-Prozesse die Zuverlässigkeit moderner elektronischer Systeme beeinflusst. Nanometer-Schaltungen, Mikroelektronik, Mikrosytemtechnik und Leistungselektronik-Systeme sind bereits feste Bestandteile unseres täglichen Lebens. Dennoch sind diese Systeme diversen natürlichen und künstlichen Störungen ausgesetzt, die aus verschiedensten Quellen stammen. Auch können solche Systeme zur Quelle der sie selbst beeinflussenden Störungen werden. Das Projekt erforscht Maßnahmen zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Anwendungen in unterschiedlichen Marktsegmenten, die auf diesen elektronischen Systemen basieren.
| Projektkoordination: |
| Infineon Technologies AG Thomas Steinecke |
| Projektmanagement: |
| Fraunhofer ENAS Dr. Reinhard Streiter |
| Projektpartner: |
| Conti Temic microelectronic GmbH- Business Unit Transmission Infineon Technologies AG Robert Bosch GmbH Universität Paderborn- Höchstfrequenzelektronik (EIM/HFE) Zuken GmbH |
| Forschungspartner: |
| Friedrich-Alexander-Universität Nürnberg-Erlangen - Lehrstuhl Elektromagnetische Felder Fraunhofer ENAS Gesellschaft zur Förderung angewandter Informatik e.V. |
| Förderkennzeichnen: |
| 01 M 3169 |
| Laufzeit: |
| 01.04.2006 - 31.03.2009 |
| MEDEA+ Projekt: |
| Dieses Projekt wird auch von MEDEA+ unter der Bezeichnung 2A701 gefördert. |
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